1 |
SIMSSecondary-ion bombardment mass spectrometry
|
2 |
SIMSHmotnostní spektrometrie sekundárních iontů, anglicky Secondary ion mass spectrometry, zkráceně SIMS, je technika sloužící k analýze složení povrchů pevných látek a tenkých vrstev pomocí vyprašování p [..]
|
<< SID | sintr >> |